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Microscopes électroniques à balayage (MEB) La Microscopie Electronique à Balayage (MEB en français ou SEM en anglais pour Scanning Electron Microscope) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en 3 dimensions de très haute résolution de l’ordre du nanomètre de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. […]
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